英國泰勒霍普森白光干涉輪廓儀CCI MP
型 號
所屬分類輪廓測量儀
報價
更新時間：2023-07-02
產(chǎn)品描述：本系列非接觸式光學(xué)計量工具包括 CCI HD、CCI MP 和 CCI MP-HS。 這些多功能儀器非常適合需要進行高精度 3D 輪廓分析的制造工業(yè)和研究領(lǐng)域使用。英國泰勒霍普森白光干涉輪廓儀CCI MP產(chǎn)品概述
英國泰勒霍普森白光干涉輪廓儀CCI MP
無論對分析速度的要求有多高，我們創(chuàng)新的CCI光學(xué)裝置非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果。 高分辨率相機與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量極其光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細(xì)分析。
●2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率
●全量程0.1埃的分辨率
●輕松測量反射率為0.3% - 100%的各種表面
●RMS重復(fù)精度<0.2埃，階躍高度重復(fù)精度<0.1%
●多語言版本的64位控制和分析軟件
*的光學(xué)干涉測量技術(shù)
• 非壓電陶瓷閉環(huán)Z軸掃描控制，2.2毫米掃描范圍
• 改進后的拼接功能，使Z軸量程可達(dá)100毫米
• 1024 x 1024像素陣列可獲得高分辨率的大視場
• 增強了角度靈敏度，能夠得到更好的測量數(shù)據(jù)
從實質(zhì)上消除測量的不確定性
• RMS重復(fù)性小于0.2埃，臺階高度重復(fù)性小于0.1%
• 整個測量量程有著0.1埃分辨率
• FEA優(yōu)化機械設(shè)計，具備出色的R&R能力
• 采用ISO標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)，確保結(jié)果的可信度
追求長期成本效益的堅固耐用設(shè)計
• 非壓電Z軸掃描控制可省去昂貴的維修費用
• 自動表面檢測可防止撞壞鏡頭
• 內(nèi)置自我診斷工具可快速、輕松地排除故障
• 操作的簡便性可減少使用者出錯可能
64位控制和分析軟件
• 包括中文、日文在內(nèi)的多語種支持
• 兼容大多數(shù)計算機平臺，有利于開展合作性研究項目
• 提供多種新工具，包括3D表面隨時間演變過程中進行4D分析
• 根據(jù)多批次測量數(shù)據(jù)自動生成報告
